












测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um
测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um

新闻资讯
News时间:03-30 2026 来自:祥宇精密
表面瑕疵根据形成原因和形态可分为:
这些瑕疵可能导致产品报废、客户投诉,甚至引发安全事故(如航空零件的裂纹可能导致结构失效)。
祥宇影像测量仪通过高分辨率成像、多光源照明、智能图像处理算法,实现对表面瑕疵的非接触式、高精度、自动化检测,其核心原理如下:
祥宇影像测量仪采用远心光学镜头(减少透视误差)和高分辨率CCD相机(最高2000万像素),可清晰捕捉微米级表面特征。通过调整放大倍率(从低倍宏观观察到高倍微观分析),适应不同尺寸和深度的瑕疵检测需求。
表面瑕疵的检测依赖于光线与表面的相互作用(反射、折射、散射)。祥宇影像测量仪配备多种照明模式,通过优化光照条件,突出瑕疵与正常表面的差异:
祥宇影像测量仪搭载VisionX智能测量软件,集成多种瑕疵检测算法,实现对表面瑕疵的自动识别、分类和量化:
400-801-9255
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